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Opticline C系列光學軸件測試儀
商品編號：Opticline C
Opticline C系列軸件測試儀系統可提供1 μm以上極高的量具能力。可以選用不同的配置等級，例如高精度C軸或者多感測器，針對您的需求調整性能。Opticline C系列具有極高的靈活性，同時還有極高的精度和穩定性。
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- 光學輪廓掃描靜動態綜合量測系統，具有長度、直徑、角度、真圓度、同心度、偏擺、圓筒度、直線度及螺牙量測等形狀公差檢測，包含測長和輪廓投影及圓度量測複合式功能。
- 適於測量氣門、葉輪、柱塞、活塞、活塞杆、針閥體、齒輪軸、法蘭盤、曲軸、凸輪軸、轉子軸等。
- Windows中文介面軟體、CNC測量程序。
- 攝像頭具備IP52防護等級，系統穩定，維護簡單。
- 測量瞬間完成，非常迅速；測量精密，精度等級達到u級。
- 工件全自動定位，簡單方便，頭架和尾架的設計獨特，工件更換迅速，精度高。
- 量測解析度：直徑0.1um，長度0.1um。
- 量測精度：直徑(1.0+D[mm]/200)um，長度(2.6+L[mm]/200)um。
- 量測範圍：直徑最大到230m，長度最大到1200mm。
- 工件重量：10kg至60kg，可放置工件的最大長度和直徑可分別達到1200mm 和300mm。
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JENOPTIK OPTICLINE - Optical Shaft Metrology - Industrial Metrology
Jenoptik Opticline T3D – Multisensor technology (Industrial Metrology)
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