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RESOLUTE™絕對式光學尺系列
商品編號：RESOLUTE
RESOLUTE是真正絕對式精細刻距光學編碼器系統，該系統能夠抵擋汙物，其規格令人印象深刻，為位置回饋領域帶來新的突破。RESOLUTE是全球第一個絕對式編碼器，在線性系統應用中，提供高達100m/s的速度和1nm的解析度，在旋轉系統應用中提供高達36,00rev/min的速度和32位元解析度。線性編碼器系統具有超低細分誤差(SDE)及抖動效果，遠勝同級所有編碼器。
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Renishaw RESOLUTE真正絕對式光學尺為一種高速且具有精細解析度的位置測量系統。一啟動就會立即取得位置，無需任何運動，提供平順的速度控制及可靠的位置穩定性。結合先進的光學鏡組與創新的位置測定演算法，RESOLUTE光學尺以達1 nm的精細解析度及高達100 m/s的速度來測量絕對位置。這提供優異的量測效能，像是±40 nm的低細分誤差(SDE)及小於10 nm RMS的超低雜訊（抖動），適合最嚴苛的運動控制挑戰。
RESOLUTE™真正絕對式光學尺為一種高速且具有精細解析度的位置測量系統。一啟動就會立即取得位置，無需任何運動，提供平順的速度控制及可靠的位置穩定性。結合先進的光學鏡組與創新的位置測定演算法，RESOLUTE光學尺以達1 nm的精細解析度及高達100 m/s的速度來測量絕對位置。這提供優異的量測效能，像是±40 nm的低細分誤差(SDE)及小於10 nm RMS的超低雜訊(抖動)，適合最嚴苛的運動控制挑戰。
RESOLUTE光學尺提供具備各種系列介面的線性及旋轉光學尺。特殊應用版本包括 RESOLUTE UHV(超高真空)、RESOLUTE ETR(廣溫域)及RESOLUTE FS(功能安全)，其與選配的進階診斷工具ADTa-100及ADT View軟體相容，可取得全面即時的光學尺資料以進行最佳化與現場偵錯。
真正絕對式位置測量
RESOLUTE光學尺系列提供出自單軌線性及旋轉光學尺的絕對式位置測量。一啟動就會立即取得位置，無需任何運動。
高速和高解析度
RESOLUTE光學尺結合先進的光學鏡組與創新的位置測定演算法，以達1 nm的精細解析度及高達100 m/s(36,000 rpm)的速度來測量絕對位置。
卓越的量測效能
RESOLUTE光學尺系列以±40 nm的低細分誤差(SDE)以及少於10 nm RMS的超低雜訊(抖動)提供絕對位置測量，達到平順的速度控制效能及可靠的位置穩定性。 -
Renishaw RESOLUTE Absolute Encoder System - Linear and Rotary Formats
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