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RLE系列光纖雷射光學尺
商品編號：RLE
RLE系統為獨特先進零差雷射干涉儀系統，專為位置回饋應用所設計。各RLE系統由一個RLU雷射裝置及一個或兩個RLD10檢測頭組成，使用機型取決於特定應用的需求。
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設定快速且方便對齊
RLE 使用光纖直接傳遞雷射光束至遠端啟動裝置，其中也包含干涉儀光學鏡組和偵測器。這可縮短整合時間並降低系統複雜程度。
高解析度
RLE 可以在最小 SDE（細分誤差）下輕鬆達到固有的高解析度。
出色的效能
RLE 具有高精度的先進訊號處理裝置，能在速度高達 2 m/sec 且軸長達到 4 m 的情形下，提供使用者次奈米等級的解析度。
特點- 光纖雷射傳導 | 使雷射直接進入需要測量軸位置處，避免了外置光路轉向鏡，分光鏡和相關安裝建的要求。
- 集成的雷射準直輔助鏡 | 集成於所有RLD10探針器中，在光導纖維工作方式的基礎上以進一步降低準直的複雜性。
- 集成的干涉鏡 | 大多數RLD探針器包括預準直干涉鏡和條紋檢測系統，簡化了安裝過程，將RLD10與移動部件上的外部光學鏡準直。
- 消除潛在熱誤差源 | 光纖傳導可使RLU雷射頭安光在對散熱不敏感的位置，不影響準直或穩定性。
